美國MAS超聲粒度分析儀

美國MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產(chǎn)品，解決了目前市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測難題，如光學(xué)方法必須要對樣品進行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復(fù)雜體系無法給出真實的粒度分布等 。目前，美國MNS公司納米粒度及Zeta電位分析儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成，可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強度的超聲波，由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同， 導(dǎo)致聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細準(zhǔn)確的粒度分布。

主要特點：

1）能分析多種分散物的混合體；

2）無需依賴Double Layer模式，準(zhǔn)確地判定等電點；

3）可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

4）可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

5）可準(zhǔn)確測量無水體系；

6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進行電位測量；

7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；

8）具有自動電位滴定功能；
美國MAS超聲粒度分析儀

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)被測樣品無需稀釋；

2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

3)不需定標(biāo)；

4)能分析多種分散物的混合體；

5)高精度；

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無需定標(biāo)；

2)能測更寬的粒徑范圍；

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

6)可適用于無水體系；

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：

1)無需稀釋，固合量高達60%；

2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響測量；

6)對流(convection)不影響測量；

7)可準(zhǔn)確測量無水體系；

技術(shù)參數(shù)：

1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；

2)可測量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電位測量范圍：+/-500 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數(shù))；

6)樣品體積：30-230ml；

7)PH范圍：0~14;

8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m